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产品详情
  • 产品名称:M1MISTRAL镀层测厚仪

  • 产品型号:M1MISTRAL
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简单介绍:
M1MISTRAL镀层测厚仪它可以分析任意形状的样品,例如*复杂的珠宝,而无需进一步的制备,更重要的是,它的分析是无损的。支持的样品尺寸*大可达 100x100x100 立方毫米。带有交叉十字线的视频显微镜,可以**定位到您要测量的位置。电动 Z 型取样台允许快速聚焦。可选的 X-Y-Z 取样台甚至可以提供更大的舒适性
详情介绍:

M1MISTRAL镀层测厚仪

M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 µ-XRF 光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、极具成本效益, 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。

测定镀层样品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu
 

珠宝及合金分析:

M1 MISTRA是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品。不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示。
该仪器具备高空间分辨率,光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形状的样品,例如*复杂的珠宝,而无需进一步的制备,更重要的是,它的分析是无损的。支持的样品尺寸*大可达 100x100x100 立方毫米。带有交叉十字线的视频显微镜,可以**定位到您要测量的位置。电动 Z 型取样台允许快速聚焦。可选的 X-Y-Z 取样台甚至可以提供更大的舒适性。

M1 MISTRAL 配备了高亮度微焦点 X 射线管,确保出色的激发测量光斑,产生高荧光效应。凭借功能强大、易于使用的 XSpect 软件套件,该仪器可交付准确的量化结果,而不论是分析块状材料还是*复杂的多层结构。

RMM1160S   RMM1100H    RMM1100S    RMM1100C   AL35N     CS267   AL35D    RMM163H    AL35R      CS149    AL34P      CS149    AL34N     AL34D      CS2674A    DW151600    AL34R     DW1510    CS2674B    DW15C63     CS26741    AL33P       CS26742    DW15C400    AL33N     DW15C2    AL33D      CS267    DW156     CS2673    AL33R     DW15400    DW152     CS2672DX   AL32P      CS2672B/C    AL32N      CS2671A/B   AL32D      CS2670AX    AL32R      CS5800    AL31P      CS50    AL31N      CS55    ME3205   ME3200    AL31D     ME250

3VL2     YD2817C   YD2811B    3VL1   YD2811D     YD2810H    YD2810A    YD2811C    YD2616D     YD2612AIYD2617A     YD2617B     YD2775E     YD2776A


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